Способ изготовления радиационно-стойкого полупроводникового прибора
| Наименование РИД | Способ изготовления радиационно-стойкого полупроводникового прибора |
|---|---|
| Реферат | Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления транзистора с низким значением плотности дефектов и повышенной радиационной стойкостью. Способ изготовления радиационно-стойкого полупроводникового прибора включает формирование слоя диоксида кремния, при этом между слоями электронорезиста формируют слой из вольфрама толщиной до 300 нм высокочастотным распылением со скоростью 1 нм/с в атмосфере (Ar+-N2). Изобретение обеспечивает снижение значений плотности дефектов и повышение радиационной стойкости, обеспечение технологичности, улучшение параметров приборов, повышение качества и увеличение процента выхода годных приборов. |
| Возможные направления использования | Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления транзистора с низким значением плотности дефектов и повышенной радиационной стойкостью. |
| Количество опытных образцов | 1 |
| Количество просмотров | 4 |
| Наличие дополнительных файлов | False |
| Использование РИД правообладателем | False |
| Внешнее использование РИД | False |
| НИОКТР (JSON) | {} |
| ИКСИ (JSON) | [] |
| ИКСПО (JSON) | [] |
| ОЭСР (JSON) | [] |
| Дата первого статуса | 2025-12-06T16:00:14.421780+00:00 |
| Предполагаемый тип результата | Изобретение |
| Ожидаемая роль | Исполнитель |
| Заказчик | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ЧЕЧЕНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ АХМАТА АБДУЛХАМИДОВИЧА КАДЫРОВА" |
| Руководитель работы | Хасанов Асламбек Идрисович |
| Руководитель организации | Саидов Заурбек Асланбекович |
| Регистрационный номер НИОКТР | — |
| Последний статус | Подтверждена, 625121100399-7, 2025-12-11 12:59:15 UTC |
| ОКПД | Нет |
| Ключевые слова | транзистор; полупроводники; слой диоксида кремния; радиационная стойкость; плотность дефектов |
| Исполнители | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ЧЕЧЕНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ АХМАТА АБДУЛХАМИДОВИЧА КАДЫРОВА" |
| Авторы | Хасанов Асламбек Идрисович |
| Коды тематических рубрик | 29.19.31 - Полупроводники |
| OESR | Физика конденсированного состояния (включая физику твердого тела, сверхпроводимость) |
| Приоритеты научно-технического развития | б) переход к экологически чистой и ресурсосберегающей энергетике, повышение эффективности добычи и глубокой переработки углеводородного сырья, формирование новых источников энергии, способов ее передачи и хранения; |
