| Наименование РИД |
Устройство для измерения поверхностного потенциала наэлектризованных пленочных покрытий
|
| Реферат |
Полезная модель относится к измерительным устройствам в области электронной техники и предназначена для измерения кинетики спада поверхностного потенциала наэлектризованных пленок фотопроводника для последующих расчётов квантовой эффективности фотогенерации свободных носителей заряда в образцах. Технический результат заявляемой полезной модели заключается в обеспечении измерения кинетики спада поверхностного потенциала полимерных образцов в период времени до захвата носителей заряда в глубокие ловушки. Заявляемый технический результат достигается за счет использования устройства для измерения поверхностного потенциала наэлектризованных пленочных образцов, отличающегося тем, что устройство содержит зонд, соединенный с транзистором через RC-контур с сопротивлением R1, R2 и переменной емкостью, транзистор, соединенный с операционным усилителем, имеющим выход на аналого-цифровой преобразователь, источник питания. Полезная модель относится к измерительным устройствам в области электронной техники и предназначена для измерения кинетики спада поверхностного потенциала наэлектризованных пленок фотопроводника для последующих расчётов квантовой эффективности фотогенерации свободных носителей заряда в образцах.
Фотопроводник - материал, у которого изменяется электрическая проводимость под воздействием света. Свет, попадая на фотопроводник, передаёт свою энергию электронам, переводя их в более высокое энергетическое состояние, что увеличивает количество свободных носителей заряда и, следовательно, проводимость.
Фотопроводники являются ключевым компонентом в оптоэлектронике, где свет преобразуется в электрический сигнал и обратно, таким образом, могут быть получены фоторезисторы, датчики освещенности, оптические сенсоры, оптоэлектронные приборы.
|
| Возможные направления использования |
Возможность измерения поверхностного потенциала наэлектризованных пленочных покрытий с использованием заявляемой полезной моделью
|
| Количество опытных образцов |
0
|
| Количество просмотров |
4
|
| Наличие дополнительных файлов |
False
|
| Использование РИД правообладателем |
False
|
| Внешнее использование РИД |
False
|
| НИОКТР (JSON) |
{}
|
| ИКСИ (JSON) |
[]
|
| ИКСПО (JSON) |
[{"last_status": {"created_date": "2026-01-05T15:37:01.797040+00:00", "registration_number": "826010500113-9", "status": {"name": "Подтверждена"}}, "copyright_protections": [{"protection_way": {"name": "Осуществлена государственная регистрация"}}]}]
|
| ОЭСР (JSON) |
[]
|
| Дата первого статуса |
2025-11-18T11:04:12.954931+00:00
|
| Предполагаемый тип результата |
Полезная модель
|
| Ожидаемая роль |
Исполнитель
|
| Заказчик |
Правительство Российской Федерации
|
| Руководитель работы |
Пожидаев Евгений Димитриевич
|
| Руководитель организации |
Соколов Игорь Владимирович
|
| Регистрационный номер НИОКТР |
125022803061-8
|
| Последний статус |
Подтверждена, 625121500312-2, 2025-12-15 12:48:52 UTC
|
| ОКПД |
Услуги, связанные с научными исследованиями и экспериментальными разработками в области физики
|
| Ключевые слова |
Электризация; Электронная техника
|
| Исполнители |
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ "ВЫСШАЯ ШКОЛА ЭКОНОМИКИ"
|
| Авторы |
Астафьев Антон Викторович; Тамеев Алексей Раисович; Пожидаев Евгений Димитриевич; Абрамешин Дмитрий Андреевич
|
| Коды тематических рубрик |
90.27.34 - Измерения электрических и магнитных величин
|
| OESR |
Электротехника и электроника
|
| Приоритеты научно-технического развития |
а) переход к передовым технологиям проектирования и создания высокотехнологичной продукции, основанным на применении интеллектуальных производственных решений, роботизированных и высокопроизводительных вычислительных систем, новых материалов и химических соединений, результатов обработки больших объемов данных, технологий машинного обучения и искусственного интеллекта;
|