Тестовый кристалл, содержащий базовые элементы, для СВЧ-характеризации отечественного КМОП технологического процесса с проектной нормой 250 нм

Наименование РИД	Тестовый кристалл, содержащий базовые элементы, для СВЧ-характеризации отечественного КМОП технологического процесса с проектной нормой 250 нм
Реферат	Тестовый кристалл предназначен для оценки типовых и предельных значений высокочастотных параметров базовых элементов отечественного КМОП технологического процесса с проектной нормой 250 нм, верификации в диапазоне СВЧ и коррекции (при необходимости) цифровых моделей базовых элементов. Создан при поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации №075-03-2025-423 от 17.01.2025.
Возможные направления использования	Тестовый кристалл предназначен для экспериментального определения значений высокочастотных параметров базовых элементов отечественного КМОП технологического процесса с проектной нормой 250 нм, верификации в диапазоне СВЧ и коррекции (при необходимости) цифровых моделей базовых элементов.
Количество опытных образцов	0
Количество просмотров	3
Наличие дополнительных файлов	True
Использование РИД правообладателем	False
Внешнее использование РИД	False
НИОКТР (JSON)	{}
ИКСИ (JSON)	[]
ИКСПО (JSON)	[]
ОЭСР (JSON)	[]
Дата первого статуса	2025-12-09T12:40:50.024269+00:00
Предполагаемый тип результата	Топология интегральных микросхем
Ожидаемая роль	Исполнитель
Заказчик	МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Руководитель работы	Усачев Николай Александрович
Руководитель организации	Кузнецов Андрей Петрович
Регистрационный номер НИОКТР	125112413348-9
Последний статус	Подтверждена, 626010600144-4, 2026-01-06 17:29:49 UTC
ОКПД	Услуги, связанные с научными исследованиями и экспериментальными разработками в области нанотехнологий
Ключевые слова	КМОП технологический процесс; СВЧ-характеризация; Базовые элементы; Тестовый кристалл
Исполнители	ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЯДЕРНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ "МИФИ"
Авторы	Телец Виталий Арсеньевич; Усачев Николай Александрович; Зубаков Алексей Владимирович; Сотсков Денис Иванович; Котов Владислав Николаевич
Коды тематических рубрик	47.33.31 - Интегральные микросхемы
OESR	Электротехника и электроника
Приоритеты научно-технического развития	а) переход к передовым технологиям проектирования и создания высокотехнологичной продукции, основанным на применении интеллектуальных производственных решений, роботизированных и высокопроизводительных вычислительных систем, новых материалов и химических соединений, результатов обработки больших объемов данных, технологий машинного обучения и искусственного интеллекта;