| Название НИОКТР |
Многослойная рентгеновская оптика дифракционного качества для перспективных задач физики, нанодиагностики и наноструктурирования конденсированного вещества
|
| Аннотация |
Благодаря современным успехам в области технологий синтеза многослойных зеркал (МЗ) и изготовления сверхгладких и сверхточных подложек для зеркал появилась реальная возможность использовать традиционные оптические методы в диапазонах мягкого рентгеновского (МР) и экстремального ультрафиолетового (ЭУФ) излучения. Реализация этой возможности открывает принципиально новые перспективы в нанодиагностике вещества, в микро- и наноэлектронике, микробиологии, астрономии и в других приложениях. И всё же, несмотря на заметные успехи последних десятилетий, многие возможности рентгеновской оптики до сих пор остаются нереализованными. Для широкого внедрения этих методов в практику необходимо решить ряд ключевых проблем, что и является темой проекта.
Одной из важных проблем является необходимость повышения отражательной способности МЗ с сохранением или улучшением прочих свойств – механических, термических, временных. Повышение коэффициентов отражения особенно важно для таких приложений как проекционная ЭУФ-литография, МР-микроскопия. Строительство в России синхротронов 4-го поколения ставит вопрос о термостойких МЗ – тепловые нагрузки вырастают на порядок. Создание оптики дифракционного качества предъявляет высокие требования к точности формы оптических элементов. А на ней могут сказываться как сами механические напряжения в МРЗ, так и их эволюция вследствие термических воздействий. Таким образом требуется разрабатывать МРЗ с высокими коэффициентами отражения, высокой термостойкостью, временной стабильностью параметров, а также с околонулевыми значениями внутренних напряжений.
Крайне важной задачей является создание подложек с субнанометровой точностью формы поверхности. Здесь требуется параллельное развитие методов изготовления таких поверхностей и методик их аттестации. При этом подложки с осажденными на них МРЗ должны сохранять форму в том числе и под воздействием мощных пучков излучения синхротронов 4-го поколения. Это обстоятельство обозначает еще одну проблему – поиск и изучение свойств новых материалов с высокой теплопроводностью, которые могли бы стать основой для оптики дифракционного качества.
Проект будет сосредоточен на разработке методов изготовления многослойной оптики, обеспечивающей дифракционно-ограниченное получение изображений в рентгеновском диапазоне длин волн. Для достижения этой цели будут решены следующие задачи. а) Для синхротронных приложений будут разработаны методы химико-механической и ионно-лучевой обработки нового для рентгеновской оптики материала «Скелетон», обеспечивающие шероховатость поверхности порядка ангстремов и точность формы поверхности на уровне субнанометров. б) Будут развиты методики аттестации формы высокогабаритных подложек. в) Для синхротронных приложений будет разработана технология изготовления протяженных (с линейными размерами до 1,5 метров) МРЗ. В том числе и криволинейных с формой поверхности, соответствующей заданной на уровне 1 нм. г) Будут развиты методы изготовления и аттестации многостриповых МРЗ. То есть зеркал с несколькими отражающими зонами в пределах одной подложки. д) С целью повышения отражающей способности будут развиваться методы управления интерфейсами в МРЗ. Как за счет внедрения антидиффузионных слоев, так и за счет насыщения незаполненных атомных связей при формировании пленок химически активными компонентами в распыляющей газовой смеси. е) Будут изучены новые технологические подходы к синтезу тонких пленок (использование газовых смесей, ионно-пучковое распыление мишеней, ионная обработка поверхностей тонких пленок).
Решение поставленных задач позволит продвинуться в развитии многослойной рентгеновской оптики. Прежде всего, будет создана научная и приборная база для изготовления и аттестации оптических элементов для синхротронов 4-го поколения. Будут разработаны новые составы МРЗ с улучшенными характеристиками. Для этого будут изучены механизмы формирования микроструктуры пленок и интерфейсов в МРЗ. На основе этих составов, а также методов изготовления и характеризации асферических зеркал дифракционного качества будут созданы оптические элементы для МР-микроскопии, ЭУФ-литографии и солнечной астрономии.
|
| Доступ к ОКОГУ исполнителя |
False
|
| Количество связанных РИД |
0
|
| Количество завершенных ИКРБС |
0
|
| Сумма бюджета |
72000.0
|
| Дата начала |
2025-05-22
|
| Дата окончания |
2027-12-31
|
| Номер контракта |
21-72-30029-П
|
| Дата контракта |
2025-05-22
|
| Количество отчетов |
1
|
| УДК |
538.97 539.216.2 539.23
|
| Количество просмотров |
5
|
| Руководитель работы |
Полковников Владимир Николаевич
|
| Руководитель организации |
Денисов Григорий Геннадьевич
|
| Исполнитель |
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ НАУЧНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ФЕДЕРАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР ИНСТИТУТ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ ИМ. А.В. ГАПОНОВА-ГРЕХОВА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК"
|
| Заказчик |
Российский научный фонд
|
| Федеральная программа |
Отсутствует
|
| Госпрограмма |
—
|
| Основание НИОКТР |
Грант
|
| Последний статус |
2025-07-16 13:12:09 UTC, 2025-07-16 13:12:09 UTC
|
| ОКПД |
Услуги, связанные с научными исследованиями и экспериментальными разработками в области физики
|
| Отраслевой сегмент |
—
|
| Минздрав |
—
|
| Межгосударственная целевая программа |
—
|
| Ключевые слова |
РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ; РЕНТГЕНОВСКАЯ ОПТИКА; ШЕРОХОВАТОСТЬ; ЛИТОГРАФИЯ; ДИФРАКЦИОННОЕ КАЧЕСТВО; КОЭФФИЦИЕНТ ОТРАЖЕНИЯ
|
| Соисполнители |
—
|
| Типы НИОКТР |
Фундаментальное исследование
|
| Приоритетные направления |
—
|
| Критические технологии |
—
|
| Рубрикатор |
29.19.16 - Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела; 29.31.21 - Оптика твердых тел
|
| OECD |
—
|
| OESR |
Физика конденсированного состояния (включая физику твердого тела, сверхпроводимость)
|
| Приоритеты научно-технического развития |
а) переход к передовым технологиям проектирования и создания высокотехнологичной продукции, основанным на применении интеллектуальных производственных решений, роботизированных и высокопроизводительных вычислительных систем, новых материалов и химических соединений, результатов обработки больших объемов данных, технологий машинного обучения и искусственного интеллекта;
|
| Регистрационные номера |
—
|